清空記錄
歷史記錄
取消
清空記錄
歷史記錄
涂膠:首先在硅晶片表面均勻涂覆一層光刻膠。光刻膠是一種對光敏感的化學材料,根據特性可分為正性光刻膠和負性光刻膠。正性光刻膠在曝光后會在顯影劑中發(fā)生降解反應而可溶解,未曝光部分不溶;負性光刻膠則相反,曝光后發(fā)生聚合反應,不溶于顯影液,未曝光部分可溶。 掩模放置:將帶有預定電路圖形的掩模板放置在硅晶片上方。掩模板上有透明和不透明區(qū)域,不透明部分通常由鉻等材料制成,用于阻擋光線,透明部分則允許光線透過。 曝光:利用光源發(fā)出的光(如紫外光、極紫外光等)照射掩模板。光線透過掩模板的透明區(qū)域,經過光學系統(tǒng)(如投影物鏡和照明系統(tǒng)等)聚焦和成像,將掩模板上的圖形投影到硅晶片表面的光刻膠上。在這個過程中,根據光刻機類型不同,光線傳播方式有所差異: 接觸式光刻機:掩模板與涂有光刻膠的硅晶片直接接觸,紫外光透過掩模板將圖形轉移到光刻膠上,這種方式分辨率較高,但容易損壞掩模板和晶片,且易受灰塵等雜質影響,目前已較少使用。 接近式光刻機:掩模板與硅晶片之間存在微小間隙(通常為幾微米),光線穿過掩模板后在光刻膠上成像。由于間隙的存在,會產生衍射效應,限制了分辨率,一般用于較大線寬工藝(3μm 以上)。 投影式光刻機:是目前主流類型,利用光學系統(tǒng)將掩模板上的圖案投影到硅晶片上。光學聚焦系統(tǒng)先將光源發(fā)出的光轉換為平行光,穿過掩模板后,再由第二光學聚焦系統(tǒng)投射到晶圓上。為實現(xiàn)高分辨率,通常只有一小部分掩模圖像被投影,并在晶圓表面掃描,可達到亞微米級分辨率。其中,浸沒式光刻機還會在光學系統(tǒng)與晶圓之間填充折射率大于 1 的浸沒液,如去離子水,以提高數(shù)值孔徑,進一步提升分辨率,可用于制造更小線寬的芯片